産業技術総合研究所(産総研)の技術を幅広く紹介し、産総研シーズと企業ニーズのマッチングを図る情報サイト[テクノブリッジ® On the Web]
産総研
HOME
当サイトについて
研究テーマ
2022年
2020年
2019年
2018年
2017年
2016年
研究カタログ
2022年
2020年
2019年
2018年
2017年
2016年
お問い合わせ
研究テーマ
HOME
2016年 研究テーマ
材料・プロセス
計測・評価
高分子の劣化現象に迫る
2022年
2020年
2019年
2018年
2017年
2016年
防災・資源
ロボット・AI
IoT/CPS
ライフサイエンス
エネルギー・環境
材料・プロセス
ナノカーボン
機能性材料
計算科学
計測・評価
材料・プロセス
【計測・評価】
高分子の劣化現象に迫る高分子の高耐久化に資する材料評価技術●● 機能性高分子材料の耐久性向上に資する評価・解析技術●● 劣化現象を顕在化するための超加速劣化試験、 高感度検出技術●● 分子構造や高次構造変化を解析可能な評価技術群超加速劣化試験法劣化反応の検出法キセノンランプステンレス型1O21O2Wavelength/nmOC温度制御器耐候性試験機(キセノンランプ)にくらべPET試料:12.5倍加速、PE試料:37倍加速ケミルミネッセンス分光法機能性高分子材料の信頼性向上一次構造変化光+酸素熱O固体NMRケミルミネッセンスレオ・オプティカル分光独自の評価技術群超加速劣化試験法ESR劣化解析・耐久性評価MALDITOFMS二次元相関分光耐熱・放熱材料CFRP, CFRTP有機半導体材料高次構造変化分子構造変化解析法分解ガス解析用FT-IR二次元相関分光法微弱な発光スペクトルを二次元相関分光法により解析することで、劣化反応を検出します。光照射+加熱+水により高加速度劣化を実現します。陽電子消滅分光Wavelength/nmMALDI-TOFMS劣化による分子構造変化を定性、定量解析します。高次構造変化解析法陽電子消滅分光法(PALS)レオオプティカル近赤外分光法自由体積の変化や結晶/アモルファス部位の動的変化を解析します。● 関連技術分野:高分子材料、機能性材料、材料特性評価、信頼性● 連 携 先 業 種:製造業(化学)、製造業(ゴム製品)、製造業(繊維製品)