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材料・プロセス【計算科学】
他手法では困難な空孔型欠陥の検出・同定陽電子消滅法による材料中の空孔型欠陥の評価●● 電子の反粒子である陽電子を空孔型欠陥検出に利用●● 欠陥種に依存する陽電子消滅γ線エネルギー分布と陽電子寿命を理論的に予測●● 陽電子消滅実験結果との比較を通じて欠陥種の同定が可能固体中に入射されたγ線陽電子Eγ陽電子 電子空孔-Eγ+pL電子と対消滅しγ線を放出γ線エネルギー：γ線±=±(m: 電子静止質量, c: 光速, pL: 電子運動量分布γ線方向成分)陽電子寿命： =+−−(r0: 電子古典半径, n±: 陽電子/電子密度, γ: エンハンスメント因子)● 関連技術分野：シミュレーション、空孔型欠陥、半導体材料、金属材料、セラミックス材料● 連 携 先 業 種：製造業
